LED老化,冷熱沖擊試驗機能模擬高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境。從而判斷產(chǎn)呂的可靠性及穩定性能等參數是否合格。將提供給您預測和改進(jìn)產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性依據。 用于檢測電子、汽車(chē)、橡膠、塑膠、航太科技、LED半導體、零部件等產(chǎn)品在反復冷熱變化下的抵抗能力。

高溫低溫沖擊試驗箱適用于對電工電子、其他產(chǎn)品、零部件、材料以及各種電子元器件進(jìn)行高溫、低溫、高低溫漸變，以及溫度循環(huán)變化、表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用性能和貯存的適應性。。(具體性能參數以技術(shù)協(xié)議為準。)

高低溫冷熱箱適用于對電工電子、其他產(chǎn)品、零部件、材料以及各種電子元器件進(jìn)行高溫、低溫、高低溫漸變，以及溫度循環(huán)變化、表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用性能和貯存的適應性。產(chǎn)品參照標準GB10589《低溫試驗箱技術(shù)條件》、GB11158《高溫試驗箱技術(shù)條件》、GB10586《濕熱試驗箱技術(shù)條件》。(具體性能參數以技術(shù)協(xié)議為準。)

高低溫沖擊試驗機適用于對電工電子、其他產(chǎn)品、零部件、材料以及各種電子元器件進(jìn)行高溫、低溫、高低溫漸變，以及溫度循環(huán)變化、表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用性能和貯存的適應性。產(chǎn)品參照標準GB10589《低溫試驗箱技術(shù)條件》、GB11158《高溫試驗箱技術(shù)條件》、GB10586《濕熱試驗箱技術(shù)條件》。(具體性能參數以技術(shù)協(xié)議為準。)

兩箱式冷熱沖擊測試機適用于對電工電子、其他產(chǎn)品、零部件、材料以及各種電子元器件進(jìn)行高溫、低溫、高低溫漸變，以及溫度循環(huán)變化、表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用性能和貯存的適應性。產(chǎn)品參照標準GB10589《低溫試驗箱技術(shù)條件》、GB11158《高溫試驗箱技術(shù)條件》、GB10586《濕熱試驗箱技術(shù)條件》。(具體性能參數以技術(shù)協(xié)議為準。)

兩箱式冷熱沖擊機適用于對電工電子、其他產(chǎn)品、零部件、材料以及各種電子元器件進(jìn)行高溫、低溫、高低溫漸變，以及溫度循環(huán)變化、表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用性能和貯存的適應性。產(chǎn)品參照標準GB10589《低溫試驗箱技術(shù)條件》、GB11158《高溫試驗箱技術(shù)條件》、GB10586《濕熱試驗箱技術(shù)條件》。(具體性能參數以技術(shù)協(xié)議為準。)

兩箱式冷熱沖擊試驗箱適用于對電工電子、其他產(chǎn)品、零部件、材料以及各種電子元器件進(jìn)行高溫、低溫、高低溫漸變，以及溫度循環(huán)變化、表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用性能和貯存的適應性。產(chǎn)品參照標準GB10589《低溫試驗箱技術(shù)條件》、GB11158《高溫試驗箱技術(shù)條件》、GB10586《濕熱試驗箱技術(shù)條件》。(具體性能參數以技術(shù)協(xié)議為準。)

三箱式冷熱沖擊機適用于對電工電子、其他產(chǎn)品、零部件、材料以及各種電子元器件進(jìn)行高溫、低溫、高低溫漸變，以及溫度循環(huán)變化、表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用性能和貯存的適應性。產(chǎn)品參照標準GB10589《低溫試驗箱技術(shù)條件》、GB11158《高溫試驗箱技術(shù)條件》、GB10586《濕熱試驗箱技術(shù)條件》。(具體性能參數以技術(shù)協(xié)議為準。)